КОМПЬЮТЕРНОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ ЭЛЕКТРОННЫХ СВОЙСТВ АМОРФНОГО КРЕМНИЯ
https://doi.org/10.20914/2310-1202-2013-4-82-87
Аннотация
Об авторах
Б. А. ГолоденкоРоссия
Профессор, кафедра информационных и управляющих систем
А. Б. Голоденко
Россия
Начальник сектора
Список литературы
1. Голоденко, А.Б. Фрактальное моделирование атомной структуры аморфного кремния на основе систем итерированных функций [Текст] / А.Б. Голоденко // Инженерная физика. – 2009. № 8. – С. 27-30.
2. Голоденко, А. Б. Фрактальное моделирование механизма порождения аморфности тетраэдрической атомной структуры [Текст] / А.Б. Голоденко, Б.А. Голоденко // Нанои микросистемная техника. – 2012. №11.–С. 23-27.
3. Голоденко, А.Б. Оценка адекватности фрактальной модели атомной структуры аморфного кремния [Текст] / А.Б. Голоденко // Физика и техника полупроводников. – 2010. – Т. 44. – В. 1. – С. 87-91.
4. Голоденко, Б.А. Тензорный подход к исследованию и моделированию систем [Текст] / Б.А. Голоденко // Вестник ВГТА. Серия: Информационные технологии, моделирование и управление. – 2008. № 2 (36). – С. 50-55.
Рецензия
Для цитирования:
Голоденко Б.А., Голоденко А.Б. КОМПЬЮТЕРНОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ ЭЛЕКТРОННЫХ СВОЙСТВ АМОРФНОГО КРЕМНИЯ. Вестник Воронежского государственного университета инженерных технологий. 2013;(4):82-87. https://doi.org/10.20914/2310-1202-2013-4-82-87
For citation:
Golodenko B.A., Golodenko A.B. COMPUTER MODELING OF THE ELECTRONIC PROPERTIES OF AMORPHOUS SILICON. Proceedings of the Voronezh State University of Engineering Technologies. 2013;(4):82-87. (In Russ.) https://doi.org/10.20914/2310-1202-2013-4-82-87